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冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱

更新時間:2024-08-19

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簡要描述:

深圳市普云電子有限公司PY-E516系列冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),采用7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀易操作,可做定值和程式控制,96組程序,每組程序3200次循環(huán),250天歷史數(shù)據(jù)保存功能。

冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱

深圳市普云電子有限公司PY-E516系列冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),采用7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀易操作,可做定值和程式控制,96組程序,每組程序3200次循環(huán),250天歷史數(shù)據(jù)保存功能。


冷熱循環(huán)沖擊試驗箱(又名冷熱沖擊試驗箱、冷熱循環(huán)試驗箱)適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具.。試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具.。



冷熱沖擊循環(huán)試驗箱PY-E516系列高低溫沖擊試驗箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性。


*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備滿足以下標準:
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗


<strong>冷熱沖擊循環(huán)試驗箱</strong>PY-E516系列高低溫沖擊試驗箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗箱.png


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術參數(shù) :

型號

PY-E516-80L

PY-E516-150L

PY-E516-225L

性 能 參 數(shù)


溫度暴露范圍

+60~+200℃

高溫室

預熱溫度上限

200℃


升溫時間

R.T.→+200℃約40min


溫度暴露范圍

0~-75℃

低溫室

預冷溫度下限

-75℃


降溫時間

R.T.→-70℃約60min


溫度范圍

-65~150℃

提籃

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)


溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

轉(zhuǎn)換時間

≤5S

溫度回復時間

≤5min

溫 度 回 復 條 件

PY-E516-80L

條件一

高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃,暴露時間30min,樣品重量5Kg鋁

條件二

高溫暴露120℃,低溫暴露-40℃,暴露時間30min,樣品重量10Kg鋁

PY-E516-150L

條件一

高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃暴露時間30min,樣品重量10Kg鋁

條件二

高溫暴露120℃,低溫暴露-40℃,暴露時間30min,樣品重量30Kg鋁

PY-E516-225L

條件一

高溫暴露+150℃,低溫暴露-65℃暴露時間30min樣品重量15Kg鋁

條件二

高溫暴露120℃,低溫暴露-40℃,暴露時間30min,樣品重量30Kg鋁


外殼

冷軋鋼板表面噴塑(象白)

結(jié) 構(gòu)

內(nèi)膽

不銹鋼板


隔熱材料

聚氨酯發(fā)泡+超細玻璃棉

制 冷

制冷方式

風冷

水冷

制冷機

進口壓縮機

溫度傳感器

鎧裝鉑電阻

控制器

西門子PLC模塊+7英寸彩色液晶觸摸控制屏 。

數(shù)據(jù)存儲與功能接口

本機SD數(shù)據(jù)卡RS485接口、USB接口


D

400

500

600

提籃尺寸(mm)

W

500

600

750


H

400

500

500


D

2250

2920

2190

外部尺寸(mm)

W*

1050

1100

1460


H

1950

2150

2320

裝機功率(KW)

19.7KVA

32KVA

36KVA

電源

AC380V 50Hz三相四線制+接地線

標準配置

產(chǎn)品使用說明書1份、試驗報告1份、合格證及質(zhì)量保證書各1份、打印紙5只、擱板2層、色帶

1只、帶腳輪。

滿足標準

GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2


*

冷熱沖擊循環(huán)試驗箱、冷熱沖擊實驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減小;
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求;


環(huán)境模擬試驗設備 模擬耐氣候檢測 :環(huán)境模擬試驗設備能按IEC、MIL、IS0、GB、GJB等標準或用戶要求進行冷熱沖擊、高溫、低溫、溫度沖擊(氣態(tài)及液態(tài))、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化.jpg

*冷熱沖擊測試箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能



PY-E516系列冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關鍵配件均采用,使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;



什么是冷熱沖擊試驗?

  冷熱沖擊測試是一種測試材料對ji高或ji低溫度的抵抗力的測試技術。這種情況類似于在高溫或低溫下不連續(xù)的情況,它可以使各種項目在最短的時間內(nèi)完成測試。冷熱沖擊測試中的化學變化或物理損傷是由熱脹冷縮的變化或其他物理值的變化引起的。冷熱沖擊測試的影響包括由產(chǎn)品開裂或開裂和位移引起的電化學變化。例如,一些金屬材料,如體心立方晶格的中低強度鋼,當其使用溫度降低時,其塑性、韌性急劇下降,使材料脆化。

  冷熱沖擊測試系統(tǒng)可以用來實現(xiàn)這種轉(zhuǎn)換溫度,如冷熱沖擊試驗箱,也稱為高低溫試驗箱。它們可用于材料研究和工業(yè)制造商的批量或電子電氣零件、自動化零件、半成品、金屬、化工材料、通訊元件、國防工業(yè)、航空航天、jun工、BGA、基于PCB的電子芯片、并測試它們的性能。它在瞬間高低溫連續(xù)溫度變化環(huán)境中所能承受的程度,是測試在快速溫差條件下因熱脹冷縮引起的化學變化和物理損傷。



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